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應(yīng)用于X射線熒光光譜儀配用的壓片機(jī)作為壓樣模具。

簡要描述： 輕輕松松獲取熒光圖像。將Axioscope 5與LED光源Colibri 3和靈敏的單機(jī)版顯微鏡相機(jī)Axiocam 202 mono相結(jié)合，可以輕松...

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全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計量測量離散點的元素污染或使用完整的晶圓圖

Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計。

日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量

理學(xué)臺式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。

波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析

日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測量

日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231測量體重變化和吸熱或放熱反應(yīng)

差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應(yīng)中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。

蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。

蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。

德國蔡司 MultiSEM 研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡

雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。

Pure色譜儀非常的緊湊，確保的安全性并且易于應(yīng)用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。

Chroma 3650可在一個測試頭中，提供最多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。

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雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測得運動物體的準(zhǔn)確溫度圖像。