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全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計(jì)量測量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖

Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。

日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量

理學(xué)臺式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。

波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時(shí)對各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析

日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動(dòng)多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計(jì)量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測量

40 多年來，日本理學(xué)Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具