蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡(CLSM)是一臺(tái)用于材料分析的儀器，可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。LSM 900可對(duì)納米材料、金屬、聚合物和半導(dǎo)體進(jìn)行精確的三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動(dòng)光學(xué)顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時(shí)具有所有的光學(xué)顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無(wú)需切換顯微鏡，您將可以進(jìn)行原位觀察，節(jié)省大量的時(shí)間。自動(dòng)化也會(huì)給您的數(shù)據(jù)采集和后期處理帶來(lái)諸多便利。另外，LSM 900具有非接觸式共聚焦成像的優(yōu)勢(shì)，例如表面粗糙度的評(píng)估。

　　優(yōu)勢(shì)

　　結(jié)合光學(xué)顯微和共聚焦成像

　　LSM共聚焦平臺(tái)LSM 900專為2D和3D的嚴(yán)苛材料應(yīng)用而開(kāi)發(fā)。

　　您可以用非接觸式共聚焦成像來(lái)表征樣品的形貌特征和評(píng)估表面粗糙度

　　以無(wú)損方式確定涂層和薄膜的厚度

　　您可以運(yùn)用各種成像方式，包括在光學(xué)觀察方式或共聚焦模式下的偏光與熒光顯微成像

　　在反射光下表征金相樣品，在透射光下表征巖石或聚合物薄片樣品。

　　高效樣品研究

　　無(wú)需切換顯微鏡，即可使用多種方式對(duì)新材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析，減少儀器設(shè)置時(shí)間，提高獲得結(jié)果的效率。

　　在樣品的多個(gè)位置使用自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集優(yōu)化您的流程。

　　可以在概況圖像上靈活定義您感興趣的區(qū)域，只采集您需要的區(qū)域。

　　高達(dá)6,144 × 6,144像素的掃描范圍使您可以靈活定義掃描區(qū)域的大小甚至方向

　　*掌控?cái)?shù)據(jù)及其后期處理

　　擴(kuò)展成像范圍

　　共聚焦裝置助您拓展寬場(chǎng)分析能力：

　　將Axio Imager.Z2m正置式全自動(dòng)顯微鏡或Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭進(jìn)行升級(jí)，您可充分利用其硬件，如物鏡、載物臺(tái)、光源等，及其軟件和接口的功能多樣性。

　　可選配的蔡司ZEN Intellesis軟件提供基于機(jī)器學(xué)習(xí)的圖像分割解決方案，可用于鑒別不同的相組織。

　　在進(jìn)行多尺度實(shí)驗(yàn)時(shí)，添加ZEN Connect來(lái)疊加和處理任意來(lái)源的圖像

　　使用ZEN Data Storage執(zhí)行智能數(shù)據(jù)管理

　　使用Shuttle&Find關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)模塊擴(kuò)展您的共聚焦顯微鏡功能實(shí)現(xiàn)從光學(xué)顯微鏡切換至電子顯微鏡，反之亦然。將成像和分析方法高效結(jié)合。在材料分析應(yīng)用中獲取樣品信息。過(guò)程*可重復(fù)。