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光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀

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產(chǎn)品簡介

光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。

詳細介紹

LDJD-C 光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀

一、概述

LDJD-C 光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀由S916測試裝置（夾具）、AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的*解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

二、適用標準

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》

GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法

GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法

三、主要參數(shù)

功能名稱：	AS2853A
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號	100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比	11000:1
信號源頻率精度 6位有效數(shù)	3×10-5 ±1個字
采樣精度	11BIT
Q測量范圍	1-1000自動/手動量程
Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測量工作誤差	<5%
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH	1nH-140mH 分辨率0.1nH
電感測量誤差	<3%
調(diào)諧電容	主電容17-240pF
電容直接測量范圍	1pF～25nF
調(diào)諧電容誤差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點搜索	自動掃描
Q合格預(yù)置范圍	5-1000聲光提示
Q量程切換	自動/手動
LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能(*)	有
大電容值直接測量顯示功能(*)	測量值可達25nF
介質(zhì)損耗系數(shù)	精度萬分之一
介電常數(shù)	精度千分之一
材料測試厚度	0.1mm-10mm