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SunScan專業(yè)版冠層分析儀采用上*采用的原理（比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結構相關的原理），通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像...

SunScan植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)...

HemiView植物圖像分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息，能夠測算出冠層截...

DELTA-T植物冠層分析儀采用上*采用的原理（比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結構相關的原理），通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，...

HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息，能夠測算出冠層截...

SunScan 植物冠層分析儀是英國 Delta-T公司旗艦產(chǎn)品，設備通過測量作物冠層PAR值提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（...