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訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試-KX-108M采用獨(dú)立通道設(shè)計(jì)方案，靈活的通道配置和組合，高穩(wěn)定性,輸出通道采用集成芯片方案，具有高規(guī)格和高可靠性

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試-KX-328M本裝置是專門設(shè)計(jì)用于中小液晶顯示屏測(cè)試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點(diǎn)屏?xí)r所需電源、圖形、視訊信號(hào)、GPIO等激勵(lì)，...

環(huán)境試驗(yàn)-步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要用于航天產(chǎn)品，信息電子儀器儀表，材料，電工，電子產(chǎn)品，各種電子元器件在高低溫和濕熱環(huán)境下進(jìn)行其各性能項(xiàng)指標(biāo)實(shí)驗(yàn)

環(huán)境試驗(yàn)-快速溫變?cè)囼?yàn)箱適用于半導(dǎo)體、儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品，為電子零組件，成品、半成品、化學(xué)、材料等個(gè)中環(huán)境測(cè)試整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的...

環(huán)境試驗(yàn)-兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)測(cè)試設(shè)備， 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在...

環(huán)境測(cè)試-三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品，為電子零組件，成品、半成品、化學(xué)、材料等個(gè)中環(huán)境測(cè)試整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條...

C/Dphy訊號(hào)檢查機(jī) NB屏高分辨率是專門設(shè)計(jì)用于中小液晶顯示屏測(cè)試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點(diǎn)屏?xí)r所需電源、圖形、視訊信號(hào)、GPIO等激勵(lì)：滿足...

定制化Aging板卡-BIST-FS特點(diǎn)：l 支持同步驅(qū)動(dòng)二片面板l 支援BIST及Aging Mode機(jī)種l 每組輸出可提供CLK,可由user自由編輯l 提...

定制化Aging板卡kx-180Al 支持8路訊號(hào)同步輸出，每CH支持8路電源輸出支持6路LED輸出160mA/CH，支持每路獨(dú)立開關(guān)功能， 具有防靜電保護(hù)功能...

Aging老化PCB板卡KX-937A支持驅(qū)動(dòng)一片120Hz面板或二片60Hz面板，支持支持6/8/10 Bit， 可編程Power On Sequence，支...

Aging老化板卡支持LVDS訊號(hào)格式，支持24機(jī)種存儲(chǔ)功能，方便切換機(jī)種，支持驅(qū)動(dòng)上位機(jī)下載參數(shù)(Timing參數(shù)/Power及Pattern)

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試-JQ-170E 采用便攜式設(shè)計(jì)(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率 1920X1200 (Max),具有靜電防護(hù)，訊號(hào)...

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試JQ-160E 便攜式設(shè)計(jì)(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率至1920X1200 (Max),具有靜電防護(hù)，訊號(hào)隔離等...

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試-KX-145M支持LVDS訊號(hào)格式,支持120HZ高刷顯示,支持軟體參數(shù)在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),支持15機(jī)種存儲(chǔ)功能，方便切換機(jī)種

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試-KX-137E支持LVDS訊號(hào)格式，支持24機(jī)種存儲(chǔ)功能，方便切換機(jī)種，支持驅(qū)動(dòng)PC上位機(jī)下載參數(shù)(Timing參數(shù)/Power及Patt...

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試-KX-248M本裝置是專門設(shè)計(jì)用于液晶顯示屏測(cè)試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點(diǎn)屏?xí)r所需電源、圖形、視訊信號(hào)、GPIO等激勵(lì),滿足...

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試-KX-226M本裝置是專門設(shè)計(jì)用于液晶顯示屏測(cè)試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點(diǎn)屏?xí)r所需電源、圖形、視訊信號(hào)、GPIO等激勵(lì), 滿...

訊號(hào)檢查機(jī)-點(diǎn)屏測(cè)試KX-120M 本裝置是專門設(shè)計(jì)用于穿戴類液晶顯示屏測(cè)試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點(diǎn)屏?xí)r所需電源、圖形、視訊信號(hào)、GPIO等激勵(lì)...

老化測(cè)試系統(tǒng)-AOI光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于LCD行業(yè)，覆蓋全尺寸范圍，主要應(yīng)用于產(chǎn)品畫面檢測(cè)，基于光學(xué)、電測(cè)、軟體、算法、機(jī)構(gòu)五大模塊，利用高分辨率圖像采集系統(tǒng)和光...

老化測(cè)試設(shè)備系列- OLED老化測(cè)試系統(tǒng)提供OLED CELL點(diǎn)屏?xí)r所需信號(hào)，數(shù)據(jù)和電源信號(hào)，適用于產(chǎn)線，品質(zhì)，研發(fā)的ACA，MCA，壽命機(jī)等各種Offline...