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上海物光顯微熔點(diǎn)儀SGW? X-4(數(shù)顯)

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產(chǎn)品簡介

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片（熱臺法）測定。。

詳細(xì)介紹

特點(diǎn)：
測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
主要技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)）
溫度顯示最小值： 1℃

熔點(diǎn)觀察方式單目顯微鏡

光學(xué)放大倍數(shù) 40×

熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)）
溫度顯示最小值： 1℃

熔點(diǎn)觀察方式單目顯微鏡

光學(xué)放大倍數(shù) 40×