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捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，采用日本電子獨(dú)自開發(fā)的像差校正算法，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。由此實(shí)現(xiàn)了高通量的原子級分辨率成像。此外，新型STEM檢測器不依賴于加速電壓就可以獲得高襯度的輕元素圖像。因此，利用能增強(qiáng)輕元素襯度的新STEM成像技術(shù)（e-ABF法）可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。

為了響應(yīng)近來已成為主流的遠(yuǎn)程操作的需求，NEOARM的電鏡室和操作室實(shí)行了分離式，主機(jī)使用了JEOL的新概念顏色—純白色和JEOL銀色，設(shè)計(jì)精煉時(shí)尚。

捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差（即6重像散，目前阻礙透射電鏡分辨率進(jìn)一步提高的障礙。），ASCOR和Cold-FEG的組合實(shí)現(xiàn)了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。

捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡的JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法(SRAM：Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix)，校正像差不需要交換標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統(tǒng)校正算法的系統(tǒng)相比，JEOL CMSMO™能夠高速處理數(shù)據(jù)，并且使操作進(jìn)一步自動(dòng)化。因此，客戶在工作流程中可以簡便高效地進(jìn)行高分辨率觀察及各種元素分析。

捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡的ABF檢測器作為高分辨觀察輕元素的有效手段已被廣泛使用。“NEOARM”支持能增強(qiáng)輕元素襯度的新ABF成像技術(shù)（e-ABF：enhanced ABF），實(shí)現(xiàn)了對含有輕元素樣品的原子級結(jié)構(gòu)的觀察。

捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡的STEM系統(tǒng)標(biāo)配的Perfect sight檢測器作為混合檢測器，采用了由不同材料制成的閃爍器。該檢測器具有的寬電壓適應(yīng)性，不依賴于加速電壓始終都可以獲得高襯度的STEM圖像，并可用于定量STEM的分析研究工作。捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標(biāo)配的Viewing Camera系統(tǒng)是以遠(yuǎn)程操控為前提而設(shè)計(jì)的利用雙相機(jī)觀察圖像的系統(tǒng)。此系統(tǒng)允許主機(jī)房和操作間分離，因此能夠靈活地安排操作環(huán)境。電鏡主機(jī)采用的純白色和JEOL銀色在室內(nèi)協(xié)調(diào)美觀，外觀設(shè)計(jì)精煉簡潔。

分辨率	STEM HAADF 圖像:　70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)、160 pm (30 kV) TEM 信息分辨率:　100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)、250 pm (30 kV)
電子槍	標(biāo)配冷場電子槍
球差校正器	STEM: NEO ASCOR HOAC、TEM: CETCOR with DSS
校正器自動(dòng)合軸系統(tǒng)	日本電子NEO JEOL COSMO™ 自動(dòng)合軸系統(tǒng)、Ad-hock合軸（SIAM）
加速電壓	30 ～ 200 kV（標(biāo)配30、80、200 kV；選配60、120 kV）
無磁場模式	標(biāo)配洛倫茲模式、放大倍數(shù) ( ×50 ～ 80 k熒光屏為參考面)
樣品移動(dòng)系統(tǒng)	X,Y,Z 軸高精度機(jī)械驅(qū)動(dòng)、標(biāo)配超高精度壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)
操作類型	RDS 操作模式