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NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號NanoCalc

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更新時間：2023-11-28 07:26:21瀏覽次數(shù)：107次

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產(chǎn)品簡介

薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測量，對單層...

詳細(xì)介紹

NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)

薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測量，對單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。

的兩種測量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測量。

技術(shù)參數(shù)