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沃特世SYNAPT XS高分辨率質譜儀優(yōu)異分析性能增加峰容量和分析選擇性

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更新時間：2022-10-27 13:00:24瀏覽次數(shù)：270次

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產品簡介

沒有研究，就制定的決策，容易是盲目的在科研領域，研究進展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項挑戰(zhàn)

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沒有研究，就制定的決策，容易是盲目的

在科研領域，研究進展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項挑戰(zhàn)。SYNAPT XS質譜儀具有更好的靈活性，可提供更大的選擇自由度，能夠打破這些壁壘，支持任何應用的科學創(chuàng)新和技術成功。
? 創(chuàng)新技術作為基石，提供十分優(yōu)異的分析性能
? SONAR和HDMSE提供一套的工具包，用于解析復雜混合物
? 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性
? CCS測量可提高化合物鑒定的準確性

zoom	創(chuàng)新技術提供更優(yōu)異的分析性能憑借沃特世質譜“SELECT SERIES"傳承下來的技術基石，內置的創(chuàng)新技術，確保使用該平臺的科學家處于質譜分析的前沿，同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。 StepWave XS 重新設計的分段四極桿傳輸光學元件，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時進一步提高分析穩(wěn)定性。 Extended ToF 針對更復雜的樣品，提供兼容UPLC的質量分辨率、耐受各種基質的動態(tài)范圍和定量分析結果，同時提供優(yōu)異的性能指標。

更大的分析選擇自由度

為有效解決固有難題，分析人員對各種分析策略的需求不斷增加，因此，SYNAPT XS將高性能與出眾靈活性相結合。競爭對手的系統(tǒng)大多存在入口選項有限、掃描功能局限性或需要多個平臺等問題。與之相比，只有沃特世能夠提供的高性能LC-MS解決方案，該方案經過專門設計，能夠提供更大的分析選擇自由度以支持科學研究。

zoom	SONAR和HDMSE提供了一套的工具包，用于解析復雜混合物完整的分析策略需要結合適當?shù)幕パa技術才能得到更全面的數(shù)據信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據依賴型采集(DIA)操作模式，分析人員能夠利用互補機制，以優(yōu)秀的方式解析復雜混合物。兩種類型的采集均提高了分析峰容量，提供“清晰明了"的碎片數(shù)據，但它們基于不同的分子特性。這提供了一種真正的研究工具包，適用于深入解析復雜混合物。

離子淌度和CCS測量

傳統(tǒng)質譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù)，對分子進行分離。除離子淌度能提供額外的分離維度、增加峰容量和分析選擇性以外，CCS測量還可提供額外的分子標識。離子CCS的測量結果有助于確定離子名稱或研究其結構。運用離子淌度技術，顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度。

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zoom	CID與ETD碎裂功能 TriWave的雙碰撞室結構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉移解離(ETD)碎裂，且分辨率高、質量測定準確，能夠拓展MS/MS檢測能力。高解析度四極桿包括4 KDa、8 KDa或32 KDa質量數(shù)范圍，適用于從小分子到大分子的MS/MS分析

TAP碎裂

時間校準平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS設計所的采集模式。它使用戶能夠利用TriWave配置，允許將IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作為兩個單獨的碰撞室運行。得到的CID-IMS-CID儀器操作有助于對組分進行超高可信度的結構表征。TAP碎裂與傳統(tǒng)MSn或MS/MS技術相比，具備優(yōu)異的碎片離子覆蓋率、靈敏度和準確性，在構建完整結構方面有著不容置疑的優(yōu)勢。

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