一臺(tái)儀器中的QCL 和 FT-IR

用戶可以使用在一臺(tái)儀器中結(jié)合了FT-IR和QCL技術(shù)的紅外顯微鏡。這樣，我們?yōu)樯茖W(xué)和材料研究打開了一扇全新的大門。

收集FT-IR光譜，選擇您想使用QCL的波長(zhǎng)，并在幾秒鐘內(nèi)創(chuàng)建令人驚嘆的化學(xué)圖像。

通過這種全新的FT-IR和紅外激光成像方法，我們終于為用戶、研究人員和科學(xué)家提供了一種開發(fā)新應(yīng)用的工具，同時(shí)也為改進(jìn)已經(jīng)建立和驗(yàn)證的方法提供了一種工具。

的真正的 QCL 顯微鏡

HYPERION II 在的 FT-IR 顯微鏡中提供不折不扣的 QCL 顯微鏡。事實(shí)上，我們專門開發(fā)并申請(qǐng)了新型相干降低技術(shù)的，以實(shí)現(xiàn)的紅外激光成像性能—無需數(shù)字后處理。

說明：在傳統(tǒng)的FT-IR中，空間相干性不起作用。然而，在具有QCL的紅外顯微測(cè)試中，不可避免地會(huì)出現(xiàn)空間相干現(xiàn)象。紅外圖像和光譜中的這些條紋和斑點(diǎn)通常被認(rèn)為化學(xué)成像的干擾。

事實(shí)上，將樣品的化學(xué)信息與描述散射光子相位關(guān)系的物理信息區(qū)分開并非易事。HYPERION II 著實(shí)解決了這個(gè)問題，并通過智能硬件設(shè)計(jì)解決了這個(gè)問題，并允許您獲取無人工處理的化學(xué)成像數(shù)據(jù)。

比較FT-IR和QCL光譜

比較這兩項(xiàng)技術(shù)是否意味著兩者都能同樣出色地完成同一項(xiàng)任務(wù)——這是一種普遍的誤解。FT-IR和紅外激光成像具有明顯的優(yōu)勢(shì)，只有將兩者結(jié)合起來才能達(dá)到效果。

我們知道，大多數(shù)科學(xué)家和研究人員不想失去FT-IR的普適性。他們也不喜歡只局限于缺少參照的單一的，技術(shù)上。幸運(yùn)的是，HYPERION II 可以同時(shí)兼顧：出色的 FT-IR 成像顯微鏡和潛力無限的 QCL 顯微鏡。

我們已經(jīng)解決了這種二元性問題，雖然 QCL技術(shù)在相同信噪比下記錄數(shù)據(jù)的速度明顯加快，但局限于小測(cè)試范圍的MIR。同樣，我們忠實(shí)于HYPERION II的概念。您選擇。您有的控制權(quán)。