FISCHER公司提供了非常多種類的不同的便攜式儀器，可以滿足每個客戶的需求。

庫侖法是一種電化學(xué)分析方法，簡單易行，可用于確定金屬涂層的厚度。雖然主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量，但該方法也適用于監(jiān)測印刷電路板上剩余純錫的厚度。
 

COULOSCOPE®CMS2的特點：
▉大，高分辨率的彩色顯示
▉簡單的儀器操作和圖形化
▉支持用戶指導(dǎo)
▉支持部分自動測量站V18
▉簡單選擇;
- 去鍍速度（0.1?50μm/ min）
- 鍍層面積（0.6 - 3.2 mm O）
▉圖形顯示電壓曲線
▉測量池
▉圖形和統(tǒng)計分析選項
▉各種語言和測量單位
▉從中選擇
▉附加功能 - COULOSCOPE®STEP
▉同時測量涂層厚度和潛力差異
▉簡單調(diào)整銀參考
▉電極
▉可調(diào)節(jié)的去電鍍電流

COULOSCOPE®CMS2：
CMS2在任何基材上測量幾乎任何金屬涂層（包括多層）的厚度; 它通過陽極溶解（DIN EN ISO 2177）根據(jù)庫侖法進行工作。 簡單的處理和菜單支持的操作員指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品零件進入檢驗的理想解決方案。 該設(shè)備配備了近100種用于不同涂層系統(tǒng)（例如，鐵上的鋅，黃銅上的鎳）的預(yù)定義的測量應(yīng)用以及各種去鍍速度（例如，1,2,5和10微米/分鐘）。 這些也可以組合用于測量多層系統(tǒng)

對應(yīng)于層的去鍍層的電位曲線直接顯示在大LCD屏幕上。 借助于自由定位的電子光標(biāo)，可以確定鎳層的厚度及其電位。 Fischer軟件STEP-View在PC上運行Windows下，這個過程更加舒適。 如圖4（4層鎳系）所示，可以總計顯示電位曲線。 光標(biāo)位置允許確定鎳層厚度（圖4，中心部分）以及電化學(xué)電位差（圖4，見下文部分）。 可以將圖表與可選圖形格式的結(jié)果和注釋一起保存。 此外，將潛在曲線數(shù)據(jù)傳輸?shù)紼xcel電子表格是可能的。