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WIVS-II型垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀

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產(chǎn)品型號(hào)WIVS-II型

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更新時(shí)間：2014-07-13 13:27:35瀏覽次數(shù)：193次

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上海納騰儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

WIVS-II型垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀

詳細(xì)介紹

詳細(xì)信息　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

儀器的原理，主要構(gòu)成與特點(diǎn)與WIVS-I型基本相同，其區(qū)別如下：
1 、干涉顯微鏡為自主設(shè)計(jì)，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等顯微鏡組，用戶可根據(jù)測量視場范圍及橫向分辨率的要求挑選。而WIVS—I型由于是6JA干涉顯微鏡改造而來，其物鏡是固定的，為40x。因此WIVS-II型干涉顯微鏡的測量視場擴(kuò)大了，顯微鏡的分辨率，范圍的選擇擴(kuò) 大了。
2 、WIVS-II型垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀垂直掃描時(shí)的驅(qū)動(dòng)對(duì)象為：
驅(qū)動(dòng)鏡頭進(jìn)行垂直方向的掃描。