光學(xué)測量的新紀元：速度、精度和可探測性，改寫了業(yè)界的掃描規(guī)則！

日前，?？怂箍涤嬃堪l(fā)布HP-O技術(shù)解決方案 — 基于調(diào)頻干涉式光學(xué)測距技術(shù)，為固定式三坐標(biāo)測量機所提供的新型光學(xué)掃描技術(shù)。

HP-O提供了與觸發(fā)式掃描測頭相媲美的精度與可靠性，同時提供了更快的掃描速度、擴大的測量范圍，并擁有通用光學(xué)非接觸測量的優(yōu)勢。如果需要的掃描測量，而觸發(fā)測頭難以接近工件，或者零部件會在觸發(fā)探測過程中變形或受損，HP-O將是高精度觸發(fā)掃描的替代選擇。

HP-O解決方案支持多傳感器測量：借助測頭更換架，多個光學(xué)測頭和觸發(fā)測頭可以在一個程序中互換。光學(xué)測頭可用于單點檢測和在開放循環(huán)模式中的3軸或4軸掃描測量。該解決方案提供了一個完整的測量系統(tǒng)，包含QUINDOS測量軟件 和Leitz PMM-C高精度測量機。

HP-O的新型輕型測頭擁有± 30°的接收角度，重復(fù)性小于0.3 μm。HP-O的*優(yōu)勢還包括：

• 非接觸測量：使得零件免受任何機械損傷，可避免測針磨損，同時零件不需要任何噴涂標(biāo)記。
• 測頭直徑只有3 mm，測量范圍高達20 mm，能夠接觸到觸發(fā)測頭難以到達的特征。
• 減少機械探測的局限性，實現(xiàn)的數(shù)據(jù)采集，提供了更快的掃描速度。
• 空間分辨率高，完成zui小細節(jié)乃至微觀尺寸的測量。
• 以高點密度簡便的獲得特征信息。

“很多人希望通過光學(xué)測量解決觸發(fā)探測方式的局限性，例如損傷敏感的零件表面，”Ingo Lindner，?？怂箍涤嬃康漠a(chǎn)品線說。“然而，光學(xué)傳感器往往難以整合到三坐標(biāo)測量機的標(biāo)準工作流程中，因此，光學(xué)測頭僅僅使用在特殊情況下?，F(xiàn)在，隨著?？怂箍涤嬃咳鴺?biāo)測量機專門配備的HP-O解決方案的發(fā)布，我們相信找到了于其他測量系統(tǒng)的高精密光學(xué)掃描方案。”