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WSG-1型電子散斑干涉（ESPI）實驗裝置
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- 更新時間：
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- 天津市拓普儀器有限公司
- 2014-10-23 12:26:04
- 638
【簡單介紹】
【詳細說明】
本實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，*的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
儀器特點：自己調(diào)節(jié)光路，可提高動手能力；
采用了處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)
計算機處理圖象，軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性：CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)節(jié)桿、光學(xué)零件、被測樣品。
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