特色

SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含：

*全光譜光譜響應(yīng)（SR, Spectral Responsivity）

*全光譜量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）

*全光譜光子探測(cè)率（PDP, Photon Detection Probability）

*暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）

*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有先進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光傳感器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn)，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本，并降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)周期，提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。

實(shí)證

*SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖

*SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

*在不同電壓下SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜

*SPAD的Jitter測(cè)量